ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับการสอบคัดเลือก

หน่วยงาน จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับการสอบคัดเลือก
นักวิจัย : หทัยนันท์ ตาลเจริญ
คำค้น : -
หน่วยงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
ผู้ร่วมงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะครุศาสตร์ , อรจรีย์ ณ ตะกั่วทุ่ง , สิริพันธุ์ สุวรรณมรรคา
ปีพิมพ์ : 2557
อ้างอิง : http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/45889
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

การวิจัยครั้งนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับสอบคัดเลือก โดย 1) ศึกษาองค์ประกอบของความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาจากผู้เชี่ยวชาญทางเทคโนโลยีการศึกษา จำนวน 10 คน โดยใช้เทคนิคการสนทนากลุ่ม 2) สร้างแบบวัดความถนัดแล้วตรวจสอบความตรงเชิงเนื้อหาโดยผู้เชี่ยวชาญ 8 คน โดยใช้เทคนิคการสนทนากลุ่ม 3) นำแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาไปทดสอบกับนิสิตนักศึกษา คณะครุศาสตร์ศึกษาศาสตร์ จำนวน 600 คน เพื่อวิเคราะห์องค์ประกอบเชิงยืนยัน 4) ตรวจสอบความตรงตามโครงสร้างชนิดความตรงเชิงจำแนก ด้วยวิธี Known Group Technique กับนิสิตนักศึกเทคโนโลยีการศึกษาปี 4 จำนวน 240 คน และ นิสิตนักศึกษา ครุศาสตร์ศึกษาศาสตร์ ปี4 จำนวน 80 คน และ 5) สร้างปกติวิสัย ผลการวิจัยพบว่า 1. แบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับสอบคัดเลือก ประกอบด้วยแบบทดสอบย่อยจำนวน 9 ชุดตามองค์ประกอบความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษา คือ 1) ความถนัดทางทัศนศิลป์ 2) ความถนัดด้านการออกแบบทางเทคโนโลยีการศึกษา 3) ความถนัดด้านการพัฒนาทางเทคโนโลยีการศึกษา 4) ความถนัดด้านการใช้และการแพร่กระจายนวัตกรรมการศึกษา 5) ความถนัดด้านการจัดการทางเทคโนโลยีการศึกษา 6) ความถนัดด้านการบริการทางเทคโนโลยีการศึกษา 7) ความถนัดด้านการวิจัยทางเทคโนโลยีการศึกษา 8) ความถนัดด้านการฝึกอบรมทางเทคโนโลยีการศึกษา และ 9) ความถนัดด้านการประเมินทางเทคโนโลยีการศึกษา ตามลำดับ จากการวิเคราะห์องค์ประกอบเชิงยืนยัน พบว่า แบบวัดความถนัดทั้งฉบับมีความสอดคล้องกับความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษา 2. แบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาฉบับที่ผู้วิจัยสร้างนี้ค่าดัชนีความสอดคล้องตามความคิดเห็นของผู้เชี่ยวชาญที่ระดับ 1.00 และผลจากวิธี Known Group Technique พบว่านิสิตนักศึกษาเทคโนโลยีการศึกษา ปี4 มีคะแนนเฉลี่ยความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาในทุกด้านสูงกว่านิสิตนักศึกษา ครุศาสตร์ศึกษาศาสตร์ ปี4 อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .05 แสดงว่ามีความตรงตามโครงสร้าง (เชิงจำแนก) สำหรับค่าสัมประสิทธิ์ความเที่ยงแบบความสอดคล้องภายในของแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาทั้งฉบับมีค่า .650 3. ปกติวิสัยมี 3 กลุ่ม คือ นิสิตนักศึกษาเทคโนโลยีการศึกษา นิสิตนักศึกษาเทคโนโลยีการศึกษา ปี 1 และนิสิตนักศึกษาเทคโนโลยีการศึกษา ปี4 โดยแสดงในตารางซึ่งบอกความสัมพันธ์ระหว่างคะแนนดิบ (raw score) เปอร์เซนไทล์ (percentile) และคะแนนทีปกติ (normalized T-score) ที่แปลงมาจากคะแนนดิบ โดยในแต่ละกลุ่มแยกเป็นความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาในแต่ละด้านและโดยรวม

วิทยานิพนธ์ (ค.ด.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2557

บรรณานุกรม :
หทัยนันท์ ตาลเจริญ . (2557). การพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับการสอบคัดเลือก.
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
หทัยนันท์ ตาลเจริญ . 2557. "การพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับการสอบคัดเลือก".
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
หทัยนันท์ ตาลเจริญ . "การพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับการสอบคัดเลือก."
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2557. Print.
หทัยนันท์ ตาลเจริญ . การพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับการสอบคัดเลือก. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2557.