ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Investigation of Oxygen Contamination in Indium Nitride Thin Film by X-ray Absorption Fine Structure

หน่วยงาน สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Investigation of Oxygen Contamination in Indium Nitride Thin Film by X-ray Absorption Fine Structure
นักวิจัย : K. Amnuyswat , Pitiporn Thanomngam , Suwat Sopitpan , A. Sungthong , Supanit Porntheeraphat , Jiti Nukaew , กิตติพงศ์ อำนวยสวัสดิ์ , ปิติพร ถนอมงาม , สุวัฒน์ โสภิตพันธ์ , อภิชาติ สังข์ทอง , ศุภนิจ พรธีระภัทร , จิติ หนูแก้ว
คำค้น : Indium Nitride , Local Structure , Oxynitride , X-Ray Absorption Fine Structure , ศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ
หน่วยงาน : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2553
อ้างอิง : http://www.nstda.or.th/thairesearch/node/18619
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

Local structures of indium oxynitride (InON) nano-crystal prepared by reactive gas-timing RF magnetron sputtering technique are under investigation. Since the optical properties of these InON thin films depend on gas-timing ratio, the local structure analysis is needed in order to determine the relation between the gas timing ratio and its optical properties. In this work, InON thinfilm with 30:0 seconds (N2:O2) gas-timings ratio was analyzed for its local structure using X-ray absorption fine structure (XAFS) technique in conjunction with first principle calculation. The results indicate that the crystal structure of the film is wurtzite structure which is a typical structure of InN. However from the results of Auger Electron Spectroscopy (AES), there are oxygen contents in the film. Since XAFS analysis confirmed the 4-fold local structure of Indium atom, these oxygen atoms must be substituted in nitrogen sites with slightly changing the local structure of Indium atom. The best fit of XAFS data indicated that there is an oxygen atom substituted in nitrogen site of the 4-fold indium.

บรรณานุกรม :
K. Amnuyswat , Pitiporn Thanomngam , Suwat Sopitpan , A. Sungthong , Supanit Porntheeraphat , Jiti Nukaew , กิตติพงศ์ อำนวยสวัสดิ์ , ปิติพร ถนอมงาม , สุวัฒน์ โสภิตพันธ์ , อภิชาติ สังข์ทอง , ศุภนิจ พรธีระภัทร , จิติ หนูแก้ว . (2553). Investigation of Oxygen Contamination in Indium Nitride Thin Film by X-ray Absorption Fine Structure.
    ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ.
K. Amnuyswat , Pitiporn Thanomngam , Suwat Sopitpan , A. Sungthong , Supanit Porntheeraphat , Jiti Nukaew , กิตติพงศ์ อำนวยสวัสดิ์ , ปิติพร ถนอมงาม , สุวัฒน์ โสภิตพันธ์ , อภิชาติ สังข์ทอง , ศุภนิจ พรธีระภัทร , จิติ หนูแก้ว . 2553. "Investigation of Oxygen Contamination in Indium Nitride Thin Film by X-ray Absorption Fine Structure".
    ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ.
K. Amnuyswat , Pitiporn Thanomngam , Suwat Sopitpan , A. Sungthong , Supanit Porntheeraphat , Jiti Nukaew , กิตติพงศ์ อำนวยสวัสดิ์ , ปิติพร ถนอมงาม , สุวัฒน์ โสภิตพันธ์ , อภิชาติ สังข์ทอง , ศุภนิจ พรธีระภัทร , จิติ หนูแก้ว . "Investigation of Oxygen Contamination in Indium Nitride Thin Film by X-ray Absorption Fine Structure."
    ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ, 2553. Print.
K. Amnuyswat , Pitiporn Thanomngam , Suwat Sopitpan , A. Sungthong , Supanit Porntheeraphat , Jiti Nukaew , กิตติพงศ์ อำนวยสวัสดิ์ , ปิติพร ถนอมงาม , สุวัฒน์ โสภิตพันธ์ , อภิชาติ สังข์ทอง , ศุภนิจ พรธีระภัทร , จิติ หนูแก้ว . Investigation of Oxygen Contamination in Indium Nitride Thin Film by X-ray Absorption Fine Structure. ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ; 2553.