ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบทรานสมิสชันศึกษาโครงสร้างจุลภาคระดับนาโนเมตรของชั้นฟิล์มบาง DLC สำหรับการเคลือบหัวอ่านและหัวเขียนของฮาร์ดดิสค์ไดรฟ์

หน่วยงาน สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบทรานสมิสชันศึกษาโครงสร้างจุลภาคระดับนาโนเมตรของชั้นฟิล์มบาง DLC สำหรับการเคลือบหัวอ่านและหัวเขียนของฮาร์ดดิสค์ไดรฟ์
นักวิจัย : ชัญชณา ธนชยานนท์ , พงศ์พันธ์ จินดาอุดม , ลัดดาวัลย์ สุภาดี , พิมพา ลิ้มทองกุล , สิริวัฒน์ ทองเสวต , ศรเทพ วรรณรัตน์ , จักรกฤช สุภาวสุทธิ์ , กฤษฎา เสียงแจ้ว , Chanchana Thanachayanont , Pongpan Chindaudom , Laddawan Supadee , Pimpa Limthongkul
คำค้น : Ceramics , Diamond thin films , Engineering and technology , Hard disk drive reader , Hard disk drive writer , Materials engineering , Microelectronics , Microstructure , Semiconductors , Thin films , Transmission electron microscopy , จุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบทรานมิชชัน , ฟิล์มบาง , ฟิล์มบางเพชร , ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ , สาขาวิศวกรรมศาสตร์และอุตสาหกรรมวิจัย , สารกึ่งตัวนำ , หัวอ่านฮาร์ดดิสก์ไดรฟ์ , หัวเขียนฮาร์ดดิสก์ไดรฟ์ , อุปกรณ์ไมโครอิเล็กทรอนิกส์ , โครงสร้างจุลภาค , โครงสร้างผลึก
หน่วยงาน : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2549
อ้างอิง : http://www.nstda.or.th/thairesearch/node/4675
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบทรานสมิสชัน (Transmission Electron Microscopy, TEM) เป็นเทคนิคที่มีประโยชน์อย่างมากในการศึกษาโครงสร้างทางจุลภาคและโครงสร้างผลึกของวัสดุ โดยเฉพาะวัสดุที่ถูกพัฒนาสำหรับอุปกรณ์ขนาดเล็ก เช่น หัวอ่าน-เขียนดิสค์ไดร์ฟ อย่างไรก็ตามการใช้เทคนิค TEM ในประเทศไทยเพื่อศึกษาทางวัสดุศาสตร์ โดยเฉพาะโครงสร้างที่เตรียมชิ้นงานได้ยาก ยังไม่ก้าวหน้านัก เนื่องจากวัสดุและอุปกรณ์ที่ใช้มีราคาแพง และยังไม่มีการร่วมมือกันของนักวิจัยในประเทศที่มีความถนัดในการใช้เทคนิค TEM อย่างแท้จริง ในโครงการนี้ นักวิจัยจากศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ และนักวิจัยจากบริษัทรีดไรท์แห่งประเทศไทยซึ่งมีความชำนาญในการเตรียมชิ้น งานสำหรับกล้อง TEM และ การใช้เทคนิค TEM ระดับหนึ่ง จะร่วมมือกับนักวิจัยจากศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่ง ชาติ เพื่อใช้เทคนิค TEM หาความหนาที่แน่นอนของชั้นฟิล์มบาง diamond like carbon (DLC) ที่เคลือบอยู่บนหัวอ่าน-เขียนดิสค์ไดร์ฟ ที่มีความหนาเพียง 10-30 ? ชั้นฟิล์มบาง DLC มีโครงสร้างแบบอสัณฐาน (amorphous) จึงเป็นชิ้นงานที่ยากแก่การศึกษาโดยเทคนิคอื่น มากไปกว่านั้นถึงแม้จะใช้เทคนิค TEM การเตรียมชิ้นงานที่ดี การใช้เทคนิคการวิเคราะห์ที่เหมาะสม และการถ่ายภาพกำลังขยายกำลังสูง ยังล้วนเป็นปัจจัยที่สำคัญอย่างยิ่งต่อการที่จะได้รับผลการทดลองที่เป็น ประโยชน์ นักวิจัยฯในโครงการจึงเห็นว่านอกจากโครงการฯนี้จะทำให้เกิดความร่วมมือ ระหว่างศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ ศูนย์เทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์และคอมพิวเตอร์แห่งชาติ และภาคเอกชน (บริษัทรีดไรท์แห่งประเทศไทย) แล้ว โครงการฯ นี้จะช่วยให้งานทางด้าน TEM ของศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติพัฒนาขึ้น และจะสามารถฝึกบุคลากรภายในศูนย์เพื่อให้สามารถเข้าใจหลักการการทำงาน ของกล้อง TEM และสามารถใช้กล้อง TEM ได้ด้วยตนเอง Transmission Electron Microscopy (TEM) has been the most powerful technique used worldwide to study microstructure and crystal structure of materials, especially materials for small devices such as readers and writers for hard disk drives. However, this technique has not been exploited extensively enough in Thailand and TEM sample preparation has proven to be difficult. This is mainly due to the high cost of operation and the lack of collaboration between capable researchers. In this project, researchers from the National Metal and Materials Technology Center (MTEC) and Read-Rite (Thailand) Co., Ltd who have conducted TEM work will study diamond like carbon (DLC) thin film grown to protect hard disk drive readers and writers using TEM. Researchers from National Electronic and Computer Technology Center (NECTEC) will provide results from Ellipsometry in correlation with TEM results. It is a challenge to study the DLC films because they are amorphous and only 10-30 ? thick. Moreover, sample preparation, which will be thoroughly learnt during this project, is a crucial step to obtain high resolution images which are needed for studying such thin films. All the TEM techniques learnt during this project will be transferred to other researchers and research assistants at MTEC via lectures and workshops to promote TEM activities at MTEC. It is hoped that after this collaboration, there will be more joint projects between MTEC, NECTEC and industrial sectors.

บรรณานุกรม :
ชัญชณา ธนชยานนท์ , พงศ์พันธ์ จินดาอุดม , ลัดดาวัลย์ สุภาดี , พิมพา ลิ้มทองกุล , สิริวัฒน์ ทองเสวต , ศรเทพ วรรณรัตน์ , จักรกฤช สุภาวสุทธิ์ , กฤษฎา เสียงแจ้ว , Chanchana Thanachayanont , Pongpan Chindaudom , Laddawan Supadee , Pimpa Limthongkul . (2549). การใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบทรานสมิสชันศึกษาโครงสร้างจุลภาคระดับนาโนเมตรของชั้นฟิล์มบาง DLC สำหรับการเคลือบหัวอ่านและหัวเขียนของฮาร์ดดิสค์ไดรฟ์.
    ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ.
ชัญชณา ธนชยานนท์ , พงศ์พันธ์ จินดาอุดม , ลัดดาวัลย์ สุภาดี , พิมพา ลิ้มทองกุล , สิริวัฒน์ ทองเสวต , ศรเทพ วรรณรัตน์ , จักรกฤช สุภาวสุทธิ์ , กฤษฎา เสียงแจ้ว , Chanchana Thanachayanont , Pongpan Chindaudom , Laddawan Supadee , Pimpa Limthongkul . 2549. "การใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบทรานสมิสชันศึกษาโครงสร้างจุลภาคระดับนาโนเมตรของชั้นฟิล์มบาง DLC สำหรับการเคลือบหัวอ่านและหัวเขียนของฮาร์ดดิสค์ไดรฟ์".
    ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ.
ชัญชณา ธนชยานนท์ , พงศ์พันธ์ จินดาอุดม , ลัดดาวัลย์ สุภาดี , พิมพา ลิ้มทองกุล , สิริวัฒน์ ทองเสวต , ศรเทพ วรรณรัตน์ , จักรกฤช สุภาวสุทธิ์ , กฤษฎา เสียงแจ้ว , Chanchana Thanachayanont , Pongpan Chindaudom , Laddawan Supadee , Pimpa Limthongkul . "การใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบทรานสมิสชันศึกษาโครงสร้างจุลภาคระดับนาโนเมตรของชั้นฟิล์มบาง DLC สำหรับการเคลือบหัวอ่านและหัวเขียนของฮาร์ดดิสค์ไดรฟ์."
    ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ, 2549. Print.
ชัญชณา ธนชยานนท์ , พงศ์พันธ์ จินดาอุดม , ลัดดาวัลย์ สุภาดี , พิมพา ลิ้มทองกุล , สิริวัฒน์ ทองเสวต , ศรเทพ วรรณรัตน์ , จักรกฤช สุภาวสุทธิ์ , กฤษฎา เสียงแจ้ว , Chanchana Thanachayanont , Pongpan Chindaudom , Laddawan Supadee , Pimpa Limthongkul . การใช้เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบทรานสมิสชันศึกษาโครงสร้างจุลภาคระดับนาโนเมตรของชั้นฟิล์มบาง DLC สำหรับการเคลือบหัวอ่านและหัวเขียนของฮาร์ดดิสค์ไดรฟ์. ปทุมธานี : สำนักงานพัฒนาวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีแห่งชาติ; 2549.