ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

ความเชื่อถือได้ของหัวอ่านเขียนแบบแมกนีโทรีซิสทีฟ ในการทดสอบแบบอิเล็กโทรไมเกรชันและการทำนายอายุการใช้งาน

หน่วยงาน จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : ความเชื่อถือได้ของหัวอ่านเขียนแบบแมกนีโทรีซิสทีฟ ในการทดสอบแบบอิเล็กโทรไมเกรชันและการทำนายอายุการใช้งาน
นักวิจัย : กันตินันท์ ทรัพย์เสริมผล
คำค้น : อิเล็กโทรไมเกรชัน , ฟิล์มบาง , ตัวอ่านและบันทึก -- อายุการใช้ , แมกนีโทรีซิวแทนส์ , ฮาร์ดดิสก์
หน่วยงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
ผู้ร่วมงาน : ศิริจันทร์ ทองประเสริฐ , ทอมป์สัน, จอยซ์ , จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. บัณฑิตวิทยาลัย
ปีพิมพ์ : 2541
อ้างอิง : 9746399489 , http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/12119
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2541

งานวิจัยนี้เป็นการศึกษาปรากฏการณ์อิเล็กโทรไมเกรชันบนฟิล์มบางของหัวอ่านเขียนแบบแมกนีโทรีซิสทีฟสำหรับฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ และสร้างโมเดลสำหรับทำนายอายุการใช้งานและเวลาการประลัย วิธีการทดสอบและการยืนยันความถูกต้อง ผลิตภัณฑ์ที่ใช้ในการทดลอง คือ หัวอ่านเขียนแมกนีโทรีซิสทีฟแบบ A และแบบ B กราฟของการทำนายอายุการใช้งานได้จากการใช้แนวทางของโมเดลอาร์ฮีเนียส ซึ่งได้จากการใช้วิธีการวิเคราะห์ความถดถอยบนข้อมูลที่ได้จากการทดสอบ ผลการทดสอบได้โมเดลอายุการใช้งานโดยมีค่า activation energy เท่ากับ 0.66851 eV สำหรับหัวอ่านเขียนแมกนีโทรีซิสทีฟแบบ A และ 0.76174 eV สำหรับหัวอ่านเขียนแมกนีโทรีซิสทีฟแบบ B โมเดลนี้นำไปคำนวณค่าความต้านทานสูงสุดของแมกนีโทรีซิสทีฟ และค่าความสูงต่ำสุดของสไตรป์ของหัวอ่านเขียนแมกนีโทรีซิสทีฟสำหรับอายุการใช้งาน 5 ปี ที่ 12.5, 17, 25, 50 และ 100% duty cycle หัวอ่านเขียนแมกนีโทรีซิสทีฟที่ผ่านการทดสอบอิเล็กโทรไมเกรชันและเกิดการประลัย ได้ถูกนำมาวิเคราะห์หาสาเหตุการประลัยด้วยเทคนิคการวิเคราะห์การประลัยหลายวิธี เช่น Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM), Energy Dispersive Spectrometer (EDS), Focused Ion Beam (FIB) และ Scanning Probe Microscope (SPM) ผลการวิเคราะห์พบว่ามีการเกิดออกซิเดชันบนวัสดุเพอร์มัลลอย (Ni0.82 และ Fe0.18) ของแมกนีโทรีซิสทีฟ และบริเวณชิลด์ทั้งสองที่อยู่รอบบริเวณแมกนีโทรีซิสทีฟ และมีการตรวจพบโพรง (void) ที่เกิดขึ้นภายในแมกนีโทรีซิสทีฟ เนื่องจากอิเล็กโทรไมเกรชัน โดยการใช้เทคนิค FIB และ FESEM

บรรณานุกรม :
กันตินันท์ ทรัพย์เสริมผล . (2541). ความเชื่อถือได้ของหัวอ่านเขียนแบบแมกนีโทรีซิสทีฟ ในการทดสอบแบบอิเล็กโทรไมเกรชันและการทำนายอายุการใช้งาน.
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
กันตินันท์ ทรัพย์เสริมผล . 2541. "ความเชื่อถือได้ของหัวอ่านเขียนแบบแมกนีโทรีซิสทีฟ ในการทดสอบแบบอิเล็กโทรไมเกรชันและการทำนายอายุการใช้งาน".
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
กันตินันท์ ทรัพย์เสริมผล . "ความเชื่อถือได้ของหัวอ่านเขียนแบบแมกนีโทรีซิสทีฟ ในการทดสอบแบบอิเล็กโทรไมเกรชันและการทำนายอายุการใช้งาน."
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2541. Print.
กันตินันท์ ทรัพย์เสริมผล . ความเชื่อถือได้ของหัวอ่านเขียนแบบแมกนีโทรีซิสทีฟ ในการทดสอบแบบอิเล็กโทรไมเกรชันและการทำนายอายุการใช้งาน. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2541.