ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Characterization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix.

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Characterization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix.
นักวิจัย : Liu, Yang.
คำค้น : DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering::Nanoelectronics.
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2548
อ้างอิง : Liu, Y. (2005). Characterization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix. Doctoral thesis, Nanyang Technological University, Singapore. , http://hdl.handle.net/10356/4750
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

In this thesis, we have synthesized Si nanocrystals (nc-Si) embedded in SiO2 films by implanting Si+ into SiO2 films that are thermally grown on Si substrates.

บรรณานุกรม :
Liu, Yang. . (2548). Characterization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix..
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Liu, Yang. . 2548. "Characterization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix.".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Liu, Yang. . "Characterization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix.."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2548. Print.
Liu, Yang. . Characterization of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix.. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2548.