ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Trap levels in graphene oxide : a thermally stimulated current study.

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Trap levels in graphene oxide : a thermally stimulated current study.
นักวิจัย : Kajen, R. S. , Chandrasekhar, Natarajan , Pey, K. L. , Vijila, C. , Jaiswal, M. , Saravanan, S. , Ng, A. M. H. , Wong, C. P. , Loh, K. P.
คำค้น : DRNTU::Engineering::Mathematics and analysis::Simulations.
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2555
อ้างอิง : Kajen, R. S., Chandrasekhar, N., Pey, K. L., Vijila, C., Jaiswal, M., Saravanan, S., et al. (2012). Trap Levels in Graphene Oxide: A Thermally Stimulated Current Study. ECS Solid State Letters, 2(2), M17-M19. , http://hdl.handle.net/10220/18598 , http://dx.doi.org/10.1149/2.006302ssl
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : ECS solid state letters
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

We report thermally stimulated current (TSC) experiments on graphene oxide (GO) to study the effects of various defect levels near the GO Fermi level. The TSC peaks are ascribed to detrapping from defect levels to the GO hopping transport energy level, and are found to be in agreement with the GO density of states reported in the literature. This work will be useful in evaluating the use of GO in memory/dielectric/barrier applications.

บรรณานุกรม :
Kajen, R. S. , Chandrasekhar, Natarajan , Pey, K. L. , Vijila, C. , Jaiswal, M. , Saravanan, S. , Ng, A. M. H. , Wong, C. P. , Loh, K. P. . (2555). Trap levels in graphene oxide : a thermally stimulated current study..
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Kajen, R. S. , Chandrasekhar, Natarajan , Pey, K. L. , Vijila, C. , Jaiswal, M. , Saravanan, S. , Ng, A. M. H. , Wong, C. P. , Loh, K. P. . 2555. "Trap levels in graphene oxide : a thermally stimulated current study.".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Kajen, R. S. , Chandrasekhar, Natarajan , Pey, K. L. , Vijila, C. , Jaiswal, M. , Saravanan, S. , Ng, A. M. H. , Wong, C. P. , Loh, K. P. . "Trap levels in graphene oxide : a thermally stimulated current study.."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2555. Print.
Kajen, R. S. , Chandrasekhar, Natarajan , Pey, K. L. , Vijila, C. , Jaiswal, M. , Saravanan, S. , Ng, A. M. H. , Wong, C. P. , Loh, K. P. . Trap levels in graphene oxide : a thermally stimulated current study.. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2555.