ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Degradation of high-frequency noise in nMOSFETs under different modes of hot-carrier stress

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Degradation of high-frequency noise in nMOSFETs under different modes of hot-carrier stress
นักวิจัย : Su, Hao , Wang, Hong , Liao, Hong , Hu, Hang
คำค้น : DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering.
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2555
อ้างอิง : 0018-9383 , http://hdl.handle.net/10220/13449 , http://dx.doi.org/10.1109/TED.2012.2212022
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : IEEE transactions on electron devices
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

In this paper, high-frequency noise under different hot-carrier (HC) stress modes in nMOSFETs has been characterized and analyzed. The experimental results revealed a significant larger increase in NFmin and Rn under maximum substrate current IB, max stress or hot hole injection Hinj than hot electron injection Einj. It is suggested that the difference in high-frequency noise after stress strongly depends on the type of defects generated during HC stresses. Our results provide experimental verification that the shallow interface states/traps at the Si/SiO2 interface introduced by HC stress play an important role in the degradation of high-frequency channel noise.

บรรณานุกรม :
Su, Hao , Wang, Hong , Liao, Hong , Hu, Hang . (2555). Degradation of high-frequency noise in nMOSFETs under different modes of hot-carrier stress.
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Su, Hao , Wang, Hong , Liao, Hong , Hu, Hang . 2555. "Degradation of high-frequency noise in nMOSFETs under different modes of hot-carrier stress".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Su, Hao , Wang, Hong , Liao, Hong , Hu, Hang . "Degradation of high-frequency noise in nMOSFETs under different modes of hot-carrier stress."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2555. Print.
Su, Hao , Wang, Hong , Liao, Hong , Hu, Hang . Degradation of high-frequency noise in nMOSFETs under different modes of hot-carrier stress. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2555.