ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

MOSFET drain current noise modeling with effective gate overdrive and junction noise

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : MOSFET drain current noise modeling with effective gate overdrive and junction noise
นักวิจัย : Chan, L. H. K. , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Ong, Shih Ni , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh
คำค้น : DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering.
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2555
อ้างอิง : http://hdl.handle.net/10220/11347 , http://dx.doi.org/10.1109/LED.2012.2203781
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : IEEE electron device letters
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

In this letter, a drain current noise model that includes the channel thermal noise and the shot noise generated at the source-bulk junction and the drain-bulk junction is presented. A unified analytical expression is derived to ensure excellent continuity with smooth transition of drain current noise from weak- to strong-inversion regimes, including the moderate-inversion region. Excellent agreement between simulated and extracted noise data has shown that the proposed model is accurate over different dimensions and operating conditions.

บรรณานุกรม :
Chan, L. H. K. , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Ong, Shih Ni , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh . (2555). MOSFET drain current noise modeling with effective gate overdrive and junction noise.
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Chan, L. H. K. , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Ong, Shih Ni , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh . 2555. "MOSFET drain current noise modeling with effective gate overdrive and junction noise".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Chan, L. H. K. , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Ong, Shih Ni , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh . "MOSFET drain current noise modeling with effective gate overdrive and junction noise."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2555. Print.
Chan, L. H. K. , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Ong, Shih Ni , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh . MOSFET drain current noise modeling with effective gate overdrive and junction noise. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2555.