ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Impact of velocity saturation and hot carrier effects on channel thermal noise model of deep sub-micron MOSFETs

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Impact of velocity saturation and hot carrier effects on channel thermal noise model of deep sub-micron MOSFETs
นักวิจัย : Ong, Shih Ni , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Chan, L. H. K. , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh
คำค้น : DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering.
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2555
อ้างอิง : Ong, S. N., Yeo, K. S., Chew, K. W. J., Chan, L. H. K., Loo, X. S., Boon, C. C., et al. (2012). Impact of velocity saturation and hot carrier effects on channel thermal noise model of deep sub-micron MOSFETs. Solid-state electronics, 72, 8-11. , 0038-1101 , http://hdl.handle.net/10220/10320 , http://dx.doi.org/10.1016/j.sse.2012.02.008
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : Solid-state electronics
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

This paper discusses the impact of the short channel effects, such as channel length modulation (CLM), velocity saturation effect (VSE) and hot carrier effect (HCE), on the channel thermal noise model of short channel MOSFETs. Based on the fundamental thermal noise theory, the channel thermal noise models are derived in four different cases considering the effect of CLM only, CLM and VSE, CLM and HCE, and the combine effect of CLM, VSE and HCE. The noise reduction due to the VSE is found to be completely cancelled out by the noise increment due to the HCE for all the operating conditions.

บรรณานุกรม :
Ong, Shih Ni , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Chan, L. H. K. , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh . (2555). Impact of velocity saturation and hot carrier effects on channel thermal noise model of deep sub-micron MOSFETs.
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Ong, Shih Ni , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Chan, L. H. K. , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh . 2555. "Impact of velocity saturation and hot carrier effects on channel thermal noise model of deep sub-micron MOSFETs".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Ong, Shih Ni , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Chan, L. H. K. , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh . "Impact of velocity saturation and hot carrier effects on channel thermal noise model of deep sub-micron MOSFETs."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2555. Print.
Ong, Shih Ni , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Chan, L. H. K. , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh . Impact of velocity saturation and hot carrier effects on channel thermal noise model of deep sub-micron MOSFETs. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2555.