ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Plasmon-enhanced polarized Raman spectroscopy for sensitive surface characterization

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Plasmon-enhanced polarized Raman spectroscopy for sensitive surface characterization
นักวิจัย : Kasim, J. , Tee, X. Y. , You, Y. M. , Ni, Zhenhua , Setiawan, Y. , Lee, Pooi See , Chan, L. , Shen, Zexiang
คำค้น : DRNTU::Engineering::Materials.
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2551
อ้างอิง : Kasim, J., Tee, X. Y., You, Y. M., Ni, Z. H., Setiawan, Y., Lee, P. S., et al. (2008). Plasmon-enhanced polarized Raman spectroscopy for sensitive surface characterization. Journal of raman spectroscopy, 39(10), 1338-1342. , http://hdl.handle.net/10220/8513 , http://dx.doi.org/10.1002/jrs.1999
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : Journal of Raman spectroscopy
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

Local-mode and localized surface plasmons generated on the silver thin film can selectively enhance the Raman signal from the surface. Further improvement of surface signal can be obtained by using the polarized Raman technique that results in a dramatic enhancement of the surface sensitivity by up to 25.4 times as compared to that without a silver coating. This technique will be very useful for Raman study on samples that suffer overlapping background signal. In this article, we show that it can be used to significantly improve the signal of thin strained-Si layer on top of SiGe buffer layer.

บรรณานุกรม :
Kasim, J. , Tee, X. Y. , You, Y. M. , Ni, Zhenhua , Setiawan, Y. , Lee, Pooi See , Chan, L. , Shen, Zexiang . (2551). Plasmon-enhanced polarized Raman spectroscopy for sensitive surface characterization.
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Kasim, J. , Tee, X. Y. , You, Y. M. , Ni, Zhenhua , Setiawan, Y. , Lee, Pooi See , Chan, L. , Shen, Zexiang . 2551. "Plasmon-enhanced polarized Raman spectroscopy for sensitive surface characterization".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Kasim, J. , Tee, X. Y. , You, Y. M. , Ni, Zhenhua , Setiawan, Y. , Lee, Pooi See , Chan, L. , Shen, Zexiang . "Plasmon-enhanced polarized Raman spectroscopy for sensitive surface characterization."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2551. Print.
Kasim, J. , Tee, X. Y. , You, Y. M. , Ni, Zhenhua , Setiawan, Y. , Lee, Pooi See , Chan, L. , Shen, Zexiang . Plasmon-enhanced polarized Raman spectroscopy for sensitive surface characterization. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2551.