ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Phenomenological analysis of domain width in rhombohedral BiFeO3 films

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Phenomenological analysis of domain width in rhombohedral BiFeO3 films
นักวิจัย : Huang, Chuanwei , Chen, Lang , Wang, Junling , He, Q. , Yang, S. Y. , Chu, Y. H. , Ramesh, R.
คำค้น : DRNTU::Engineering::Materials::Magnetic materials
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2552
อ้างอิง : Huang, C. W., Chen, L., Wang, J., He, Q., Yang, S. Y., Chu, Y. H., et al. (2009). Phenomenological analysis of domain width in rhombohedral BiFeO3 films. Physical Review B, 80. , http://hdl.handle.net/10220/6861 , http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.80.140101
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : Physical review B
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

The experimental domain size scaling law in epitaxial BiFeO3 films shows a different behavior from predictions of the conventional elastic domains: the (101)-type 71° domains are much wider than that of (100)- type 109° despite the larger domain-wall energy in (100) boundary. A phenomenological analysis for rhombohedral BiFeO3 film is proposed, and it reveals that both the depolarizing energy and the elastic energy are indispensable for the equilibrium domain structures. With the increase in the asymmetrical electrostatic boundary on the film surfaces, the dominant domain scaling mechanism changes from electrostatic-dependent domain structure to elastic-dependent one, which is consistent with the experimental data. The present results highlight the general role of depolarizing field in rhombohedral domain structures.

บรรณานุกรม :
Huang, Chuanwei , Chen, Lang , Wang, Junling , He, Q. , Yang, S. Y. , Chu, Y. H. , Ramesh, R. . (2552). Phenomenological analysis of domain width in rhombohedral BiFeO3 films.
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Huang, Chuanwei , Chen, Lang , Wang, Junling , He, Q. , Yang, S. Y. , Chu, Y. H. , Ramesh, R. . 2552. "Phenomenological analysis of domain width in rhombohedral BiFeO3 films".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Huang, Chuanwei , Chen, Lang , Wang, Junling , He, Q. , Yang, S. Y. , Chu, Y. H. , Ramesh, R. . "Phenomenological analysis of domain width in rhombohedral BiFeO3 films."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2552. Print.
Huang, Chuanwei , Chen, Lang , Wang, Junling , He, Q. , Yang, S. Y. , Chu, Y. H. , Ramesh, R. . Phenomenological analysis of domain width in rhombohedral BiFeO3 films. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2552.