ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Visualizing charge transport in silicon nanocrystals embedded in SiO2 films with electrostatic force microscopy

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Visualizing charge transport in silicon nanocrystals embedded in SiO2 films with electrostatic force microscopy
นักวิจัย : Lau, Hon Wu , Ng, Chi Yung , Liu, Yang , Tse, Man Siu , Lim, Vanissa Sei Wei , Tan, Ooi Kiang , Chen, Tupei
คำค้น : DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering::Nanoelectronics
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2547
อ้างอิง : Lau, H. W., Ng, C. Y., Liu, Y., Tse, M. S., Lim, V. S. W., Tan, O. K., et al. (2004). Visualizing charge transport in silicon nanocrystals embedded in SiO2 films with electrostatic force microscopy. Applied physics letters, 85(14), 2941-2943. , 0003-6951 , http://hdl.handle.net/10220/6414 , http://dx.doi.org/10.1063/1.1801675
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : Applied physics letters
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

In this work, we report a mapping of charge transport in silicon nanocrystals (nc-Si) embedded in SiO2 dielectric films with electrostatic force microscopy. The charge diffusion from chargednc-Si to neighboring uncharged nc-Si in the SiO2 matrix is found to be the dominant mechanism for the decay of the trapped charge in the nc-Si. The trapped charge and the charge decay have been determined quantitatively from the electrical force measurement. An increase in the area of the charge cloud due to the charge diffusion has been observed clearly. In addition, the blockage and acceleration of charge diffusion by the neighboring charges with the same and opposite charge signs (i.e., positive or negative), respectively, have been observed.

บรรณานุกรม :
Lau, Hon Wu , Ng, Chi Yung , Liu, Yang , Tse, Man Siu , Lim, Vanissa Sei Wei , Tan, Ooi Kiang , Chen, Tupei . (2547). Visualizing charge transport in silicon nanocrystals embedded in SiO2 films with electrostatic force microscopy.
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Lau, Hon Wu , Ng, Chi Yung , Liu, Yang , Tse, Man Siu , Lim, Vanissa Sei Wei , Tan, Ooi Kiang , Chen, Tupei . 2547. "Visualizing charge transport in silicon nanocrystals embedded in SiO2 films with electrostatic force microscopy".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Lau, Hon Wu , Ng, Chi Yung , Liu, Yang , Tse, Man Siu , Lim, Vanissa Sei Wei , Tan, Ooi Kiang , Chen, Tupei . "Visualizing charge transport in silicon nanocrystals embedded in SiO2 films with electrostatic force microscopy."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2547. Print.
Lau, Hon Wu , Ng, Chi Yung , Liu, Yang , Tse, Man Siu , Lim, Vanissa Sei Wei , Tan, Ooi Kiang , Chen, Tupei . Visualizing charge transport in silicon nanocrystals embedded in SiO2 films with electrostatic force microscopy. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2547.