ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Static dielectric constant of isolated silicon nanocrystals embedded in a SiO2 thin film

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Static dielectric constant of isolated silicon nanocrystals embedded in a SiO2 thin film
นักวิจัย : Ng, Chi Yung , Chen, Tupei , Ding, Liang , Liu, Yang , Fung, Stevenson Hon Yuen , Tse, Man Siu , Dong, Zhili
คำค้น : DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering::Nanoelectronics
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2549
อ้างอิง : Ng, C. Y., Chen, T. P., Ding, L., Liu, Y., Fung, S. H. Y., Tse, M. S., et al. (2006). Static dielectric constant of isolated silicon nanocrystals embedded in a SiO2 thin film. Applied Physics Letters, 88, 1-3. , 0003-6951 , http://hdl.handle.net/10220/6406 , http://dx.doi.org/10.1063/1.2172009
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : Applied physics letters
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

The static dielectric constant of isolated silicon nanocrystals (nc-Si) embedded in a SiO2 thin film synthesized by Si+ implantation has been determined from capacitance measurement based on the Maxwell–Garnett effective medium approximation and the stopping and range of ions in matter simulation. For the nc-Si with a mean size of ∼ 4.5 nm, the dielectric constant so determined is 9.8, being consistent with a theoretical prediction. This value is significantly lower than the static dielectric constant (11.9) of bulk crystalline Si, indicating the significance of nc-Si size effect. The information of nc-Si dielectric constant is not only important to the fundamental physics but also useful to the design and modeling of nc-Si-based memory devices.

บรรณานุกรม :
Ng, Chi Yung , Chen, Tupei , Ding, Liang , Liu, Yang , Fung, Stevenson Hon Yuen , Tse, Man Siu , Dong, Zhili . (2549). Static dielectric constant of isolated silicon nanocrystals embedded in a SiO2 thin film.
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Ng, Chi Yung , Chen, Tupei , Ding, Liang , Liu, Yang , Fung, Stevenson Hon Yuen , Tse, Man Siu , Dong, Zhili . 2549. "Static dielectric constant of isolated silicon nanocrystals embedded in a SiO2 thin film".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Ng, Chi Yung , Chen, Tupei , Ding, Liang , Liu, Yang , Fung, Stevenson Hon Yuen , Tse, Man Siu , Dong, Zhili . "Static dielectric constant of isolated silicon nanocrystals embedded in a SiO2 thin film."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2549. Print.
Ng, Chi Yung , Chen, Tupei , Ding, Liang , Liu, Yang , Fung, Stevenson Hon Yuen , Tse, Man Siu , Dong, Zhili . Static dielectric constant of isolated silicon nanocrystals embedded in a SiO2 thin film. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2549.