ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

High frequency drain current noise modeling in MOSFETs under sub-threshold condition

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : High frequency drain current noise modeling in MOSFETs under sub-threshold condition
นักวิจัย : Chan, Lye Hock , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Ong, Shih Ni , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh
คำค้น : DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering.
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2552
อ้างอิง : Chan, L. H., Yeo, K. S., Chew, K. W. J., Ong, S. N., Loo, X. S., Boon, C. C., & Do, M. A.(2009). Integrated Circuits, ISIC '09. In Proceedings of the 2009 12th International Symposium (pp.310-313) , http://hdl.handle.net/10220/6282 , http://ieeexplore.ieee.org.ezlibproxy1.ntu.edu.sg/search/srchabstract.jsp?tp=&arnumber=5403709&queryText%3DHigh+Frequency+Drain+Current+Noise+Modeling+in+MOSFETs+under+Sub-Threshold+Condition%26openedRefinements%3D*%26searchField%3DSearch+All , http://www.isic2009.org/
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

A new high frequency drain current noise model was developed for MOSFETs under sub-threshold condition. A simple parameter extraction technique is proposed, which utilizes Y-parameter analysis on the RF small-signal equivalent circuit. Good agreement has been obtained between the predicted and measured results up to 20 GHz.

บรรณานุกรม :
Chan, Lye Hock , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Ong, Shih Ni , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh . (2552). High frequency drain current noise modeling in MOSFETs under sub-threshold condition.
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Chan, Lye Hock , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Ong, Shih Ni , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh . 2552. "High frequency drain current noise modeling in MOSFETs under sub-threshold condition".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Chan, Lye Hock , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Ong, Shih Ni , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh . "High frequency drain current noise modeling in MOSFETs under sub-threshold condition."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2552. Print.
Chan, Lye Hock , Yeo, Kiat Seng , Chew, Kok Wai Johnny , Ong, Shih Ni , Loo, Xi Sung , Boon, Chirn Chye , Do, Manh Anh . High frequency drain current noise modeling in MOSFETs under sub-threshold condition. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2552.