ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Robust intermediate read-out for deep submicron technology CMOS image sensors

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Robust intermediate read-out for deep submicron technology CMOS image sensors
นักวิจัย : Chen, Shoushun , Farid, Boussaid , Amine, Bermak
คำค้น : DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering::Electronic systems
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2551
อ้างอิง : Chen, S. S., Farid, B., & Amine, B. (2008). Robust intermediate read-out for deep submicron technology CMOS image sensors. IEEE Sensors Journal, 8(3), 286-294. , 1530-437X , http://hdl.handle.net/10220/6335 , http://dx.doi.org/10.1109/JSEN.2007.912783
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : IEEE sensors journal
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

In this paper, a CMOS image sensor featuring a novel spiking pixel design and a robust digital intermediate read-out is proposed for deep submicron CMOS technologies. The proposed read-out scheme exhibits a relative insensitivity to the ongoing aggressive scaling of the supply voltage. It is based on a novel compact spiking pixel circuit, which combines digitizing and memory functions. Illumination is encoded into a Gray code using a very simple yet robust Gray 8-bit counter memory. Circuit simulations and experiments demonstrate the successful operation of a 64 64 image sensor, implemented in a 0.35 m CMOS technology. A scalability analysis is presented. It suggests that deep sub-0.18 m will enable the full potential of the proposed Gray encoding spiking pixel. Potential applications include multiresolution imaging and motion detection.

บรรณานุกรม :
Chen, Shoushun , Farid, Boussaid , Amine, Bermak . (2551). Robust intermediate read-out for deep submicron technology CMOS image sensors.
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Chen, Shoushun , Farid, Boussaid , Amine, Bermak . 2551. "Robust intermediate read-out for deep submicron technology CMOS image sensors".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Chen, Shoushun , Farid, Boussaid , Amine, Bermak . "Robust intermediate read-out for deep submicron technology CMOS image sensors."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2551. Print.
Chen, Shoushun , Farid, Boussaid , Amine, Bermak . Robust intermediate read-out for deep submicron technology CMOS image sensors. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2551.