ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Sensitivity analysis of coupled interconnects for RFIC applications

หน่วยงาน Nanyang Technological University, Singapore

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Sensitivity analysis of coupled interconnects for RFIC applications
นักวิจัย : Shi, Xiaomeng , Yeo, Kiat Seng , Ma, Jianguo , Do, Manh Anh , Li, Erping
คำค้น : DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering.
หน่วยงาน : Nanyang Technological University, Singapore
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2549
อ้างอิง : Shi, X., Yeo, K. S., Ma, J. G., Do, M. A., & Li, E. (2006). Sensitivity analysis of coupled interconnects for RFIC applications. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 48(4), 607-613. , 0018-9375 , http://hdl.handle.net/10220/4665 , http://dx.doi.org/10.1109/TEMC.2006.884417
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : IEEE transactions on electromagnetic compatibility
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

This paper investigates the sensitivity of on-wafer coupled interconnects to the Si CMOS process parameters. Experiments are conducted to emulate state-of-the-art and future technologies. Some important parameters characterizing the coupled interconnects have been examined. The influence of the process parameters on transmission, reflection, near-end, and far-end crosstalk capacities of the coupled interconnects are discussed.

บรรณานุกรม :
Shi, Xiaomeng , Yeo, Kiat Seng , Ma, Jianguo , Do, Manh Anh , Li, Erping . (2549). Sensitivity analysis of coupled interconnects for RFIC applications.
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Shi, Xiaomeng , Yeo, Kiat Seng , Ma, Jianguo , Do, Manh Anh , Li, Erping . 2549. "Sensitivity analysis of coupled interconnects for RFIC applications".
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore.
Shi, Xiaomeng , Yeo, Kiat Seng , Ma, Jianguo , Do, Manh Anh , Li, Erping . "Sensitivity analysis of coupled interconnects for RFIC applications."
    กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore, 2549. Print.
Shi, Xiaomeng , Yeo, Kiat Seng , Ma, Jianguo , Do, Manh Anh , Li, Erping . Sensitivity analysis of coupled interconnects for RFIC applications. กรุงเทพมหานคร : Nanyang Technological University, Singapore; 2549.