ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ

หน่วยงาน จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ
นักวิจัย : ธิษณา เพียรเลิศ, 2523-
คำค้น : การโปรแกรมเชิงวัตถุ , ซอฟต์แวร์รีแฟคทอริง , ซอฟต์แวร์--การวัด , การบำรุงรักษาซอฟต์แวร์
หน่วยงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
ผู้ร่วมงาน : พรศิริ หมื่นไชยศรี , จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์
ปีพิมพ์ : 2547
อ้างอิง : 9741768729 , http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/1645
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

วิทยานิพนธ์ (วท.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2547

นำเสนอวิธีการตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับซอร์สโค้ด 6 ประเภท คือ Feature Envy, Large Classs, Lazy Class, Long Method, Long Parameter Lists และ Switch Statement โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ ซึ่งมาตรวัดที่นำเสนอเหล่านี้ใช้เพื่อช่วยตรวจสอบว่า ส่วนใดของโค้ดเป็นร่องรอยที่ไม่ดี และวิธีการนี้ได้เสนอแนะวิธีการรีแฟคทอริง เพื่อแก้ไขร่องรอยที่ไม่ดีที่พบในซอร์สโค้ด จากนั้นประเมินความสามารถของมาตรวัดร่องรอยที่ไม่ดี โดยเปรียบเทียบค่ามาตรวัดร่องรอยที่ไม่ดี ก่อนและหลังการประยุกต์ใช้วิธีรีแฟคทอริง ผู้วิจัยได้พัฒนาเครื่องมือสำหรับตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีของซอร์สโค้ดภาษาจาวา โดยคำนวณค่ามาตรวัดร่องรอยที่เกี่ยวข้องกับร่องรอยที่ไม่ดีทั้ง 6 ประเภท ผลการทดสอบพบว่า ค่ามาตรวัดร่องรอยที่ไม่ดีนั้นดีขึ้น หลังจากประยุกต์ใช้วิธีแฟคทอริงแล้ว แสดงให้เห็นว่า มาตรวัดร่องรอยที่ไม่ดีที่เสนอในงานวิจัยนี้ ช่วยในการตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีได้

บรรณานุกรม :
ธิษณา เพียรเลิศ, 2523- . (2547). การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ.
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
ธิษณา เพียรเลิศ, 2523- . 2547. "การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ".
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
ธิษณา เพียรเลิศ, 2523- . "การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ."
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2547. Print.
ธิษณา เพียรเลิศ, 2523- . การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2547.