ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน

หน่วยงาน ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน
นักวิจัย : วิชชา เฟื่องจันทร์
คำค้น : DESIGN OF TEST MODULE , BOUNDARY SCAN ARCHITECTURE , MICROCONTROLLER , HARDWARE DESCRIPTION LANGUAGES , SIMULATION
หน่วยงาน : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2544
อ้างอิง : http://www.thaithesis.org/detail.php?id=1082544000315
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

วิทยานิพนธ์นี้เสนอการออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรม บาวน์ดารี สแกน โดยใช้ภาษาวีเอชดีแอล (VHDL) ซึ่งเป็นภาษาอธิบายฮาร์ดแวร์ (HDL : Hardward Description Languages) โดยออกแบบวงจรในระดับพฤติกรรม (behavioral level) และในระดับโครงสร้าง (structural level) เพื่อทดสอบการเชื่อมต่อ และทดสอบฟังก์ชั่นการทำงาน ของแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ โดยออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบและสร้างข้อมูลทดสอบ (test data) เพื่อใช้ทดสอบหาความผิดพร่อง (fault)ที่จะเกิดขึ้น โดยกระบวนการทดสอบที่ออกแบบมาเพื่อใช้ทดสอบ จะขึ้นอยู่กับความเหมาะสมและเป้าหมายในการทดสอบ โดยทดสอบด้วยวิธีการจำลองการทำงาน (simulation) และวิเคราะห์ผลด้วยโปรแกรมที่พัฒนาขึ้นมาโดยเฉพาะ

บรรณานุกรม :
วิชชา เฟื่องจันทร์ . (2544). การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน.
    กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย.
วิชชา เฟื่องจันทร์ . 2544. "การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน".
    กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย.
วิชชา เฟื่องจันทร์ . "การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน."
    กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย, 2544. Print.
วิชชา เฟื่องจันทร์ . การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน. กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลวิทยานิพนธ์ไทย; 2544.