ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน

หน่วยงาน สำนักงานการวิจัยแห่งชาติ

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน
นักวิจัย : วิชชา เฟื่องจันทร์
คำค้น : ไมโครคอนโทรลเลอร์
หน่วยงาน : สำนักงานการวิจัยแห่งชาติ
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : 2544
อ้างอิง : http://dric.nrct.go.th/Search/SearchDetail/120494
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย : -
บรรณานุกรม :
วิชชา เฟื่องจันทร์ . (2544). การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน.
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,.
วิชชา เฟื่องจันทร์ . 2544. "การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน".
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,.
วิชชา เฟื่องจันทร์ . "การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน."
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,, 2544. Print.
วิชชา เฟื่องจันทร์ . การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย,; 2544.