ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

การพัฒนาวิธีการสุ่มตรวจสอบสำหรับข้อมูลลักษณะสำหรับโรงงานผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์

หน่วยงาน จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : การพัฒนาวิธีการสุ่มตรวจสอบสำหรับข้อมูลลักษณะสำหรับโรงงานผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์
นักวิจัย : ชลิดา สารใจ
คำค้น : แผงวงจรไฟฟ้า -- ข้อบกพร่อง , อุตสาหกรรมแผงวงจรไฟฟ้า -- ข้อบกพร่อง , Integrated circuits -- Defects , Integrated circuits industry -- Defects
หน่วยงาน : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
ผู้ร่วมงาน : วิภาวี ธรรมาภรณ์พิลาศ , จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์
ปีพิมพ์ : 2556
อ้างอิง : http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/49711
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย :

วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2556

งานวิจัยนี้ศึกษาการตรวจสอบในกระบวนการผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์พบว่ามีของเสียหลุดจากการตรวจสอบและถูกส่งไปให้กับลูกค้าจำนวนมาก ของเสียที่พบมากกว่า 80 เปอร์เซ็นต์สามารถมองเห็นและตรวจพบได้ด้วยการตรวจสอบด้วยสายตา จากการวิเคราะห์ระบบการวัดเดิมแสดงให้เห็นว่าพนักงานตรวจสอบมีปัญหาในเรื่องประสิทธิผลด้านไบอัสและประสิทธิผลด้านรีพีททะบิลิตี้มีค่าเท่ากับ 43 เปอร์เซ็นต์ และ 47 เปอร์เซ็นต์ ตามลำดับ ดังนั้นได้ปรับปรุงกระบวนการตรวจสอบและประเมินผลพนักงานอีกครั้ง ผลของทั้งสองดัชนีเพิ่มขึ้นเป็น 97 เปอร์เซ็นต์ นอกจากนี้ยังได้วัดผลความมีประสิทธิผลของระบบการวัดและสัมประสิทธิ์ Kappa ผลการวิเคราะห์สามารถยอมรับการตรวจสอบของพนักงานทุกคนได้ หลังจากปรับปรุงวิธีการตรวจสอบและการตรวจสอบของพนักงานทุกคนได้มาตรฐานแล้ว แผนการสุ่มตัวอย่างจึงถูกนำมาใช้ในช่วงท้ายของกระบวนการผลิตก่อนส่งสินค้าให้ลูกค้า แผนการสุ่มตัวอย่างที่ใช้อยู่ในปัจจุบันใช้มาตรฐาน ANSI/ASQC Z1.4 แผนการสุ่มตัวอย่างนี้ให้คุณภาพลอตงานหลังการตรวจสอบสูงสุด (AOQL) เท่ากับ 0.0147 เปอร์เซ็นต์ โรงงานกรณีศึกษาต้องการให้ลอตงานที่ส่งออกไปมีระดับคุณภาพอยู่ที่ 0.005 เปอร์เซ็นต์ จึงนำมาใช้ออกแบบแผนการสุ่มตัวอย่างที่นำเสนอมีค่า AOQL เท่ากับ 0.005 เปอร์เซ็นต์ การเปรียบเทียบการทำงานของแผนการสุ่มตัวอย่างโดยการใช้เส้นโค้ง OC และการวิเคราะห์ค่าใช้จ่ายในการตรวจสอบ ผลการเปรียบเทียบพบว่าแผนการสุ่มตัวอย่างที่นำเสนอให้เส้นโค้ง OC ที่มีความสามารถแยกลอตงานดีออกจากลอตงานเสียได้ดีกว่าแผนการสุ่มตัวอย่างที่ใช้อยู่ในปัจจุบัน ค่าใช้จ่ายในการตรวจสอบลดลงกว่า 50 เปอร์เซ็นต์จากค่าใช้จ่ายในการตรวจสอบของแผนการสุ่มตัวอย่างที่ใช้อยู่ในปัจจุบันคิดเป็นเงินเท่ากับ 26,570.4 บาท และแผนการสุ่มตัวอย่างที่นำเสนอคิดเป็นเงินเท่ากับ 17,789.4 บาท

บรรณานุกรม :
ชลิดา สารใจ . (2556). การพัฒนาวิธีการสุ่มตรวจสอบสำหรับข้อมูลลักษณะสำหรับโรงงานผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์.
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
ชลิดา สารใจ . 2556. "การพัฒนาวิธีการสุ่มตรวจสอบสำหรับข้อมูลลักษณะสำหรับโรงงานผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์".
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย.
ชลิดา สารใจ . "การพัฒนาวิธีการสุ่มตรวจสอบสำหรับข้อมูลลักษณะสำหรับโรงงานผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์."
    กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2556. Print.
ชลิดา สารใจ . การพัฒนาวิธีการสุ่มตรวจสอบสำหรับข้อมูลลักษณะสำหรับโรงงานผลิตแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์. กรุงเทพมหานคร : จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; 2556.