ridm@nrct.go.th   ระบบคลังข้อมูลงานวิจัยไทย   รายการโปรดที่คุณเลือกไว้

Optimal frequency range selection for full C-V characterization above 45MHz for ultra thin (1.2-nm) nitrided oxide MOSFETs

หน่วยงาน ฐานข้อมูลโครงสร้างพื้นฐานภาครัฐด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี

รายละเอียด

ชื่อเรื่อง : Optimal frequency range selection for full C-V characterization above 45MHz for ultra thin (1.2-nm) nitrided oxide MOSFETs
นักวิจัย : วุฒินันท์ เจียมศักดิ์ศิริ
คำค้น : -
หน่วยงาน : ฐานข้อมูลโครงสร้างพื้นฐานภาครัฐด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี
ผู้ร่วมงาน : -
ปีพิมพ์ : -
อ้างอิง : -
ที่มา : -
ความเชี่ยวชาญ : -
ความสัมพันธ์ : -
ขอบเขตของเนื้อหา : -
บทคัดย่อ/คำอธิบาย : -
บรรณานุกรม :
วุฒินันท์ เจียมศักดิ์ศิริ . (). Optimal frequency range selection for full C-V characterization above 45MHz for ultra thin (1.2-nm) nitrided oxide MOSFETs.
    กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลโครงสร้างพื้นฐานภาครัฐด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี.
วุฒินันท์ เจียมศักดิ์ศิริ . . "Optimal frequency range selection for full C-V characterization above 45MHz for ultra thin (1.2-nm) nitrided oxide MOSFETs".
    กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลโครงสร้างพื้นฐานภาครัฐด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี.
วุฒินันท์ เจียมศักดิ์ศิริ . "Optimal frequency range selection for full C-V characterization above 45MHz for ultra thin (1.2-nm) nitrided oxide MOSFETs."
    กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลโครงสร้างพื้นฐานภาครัฐด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี, . Print.
วุฒินันท์ เจียมศักดิ์ศิริ . Optimal frequency range selection for full C-V characterization above 45MHz for ultra thin (1.2-nm) nitrided oxide MOSFETs. กรุงเทพมหานคร : ฐานข้อมูลโครงสร้างพื้นฐานภาครัฐด้านวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี; .